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| 核心指標(biāo) | 指標(biāo)定義 | 核心作用 | 關(guān)鍵參數(shù)范圍（按等級(jí)劃分） | 選型建議（按應(yīng)用場(chǎng)景匹配） |
| 光譜匹配度（Spectral Match） | 模擬器輸出光譜與 AM1.5G 標(biāo)準(zhǔn)太陽(yáng)光譜的吻合程度 | 決定測(cè)試數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性，避免因光譜差異導(dǎo)致材料性能誤判（如光伏電池效率、材料老化速率） | - A 級(jí)：±25%（全光譜） | - 科研 / 實(shí)驗(yàn)室：優(yōu)先選 A 級(jí)（需精準(zhǔn)數(shù)據(jù)） |
| 輻照均勻性（Irradiance Uniformity） | 測(cè)試面內(nèi)輻照強(qiáng)度的分布一致性（通常以中心點(diǎn)為基準(zhǔn)） | 確保樣品不同區(qū)域測(cè)試條件一致，避免局部數(shù)據(jù)偏差（如大面積光伏組件、薄膜材料測(cè)試） | - A 級(jí)：±2% | - 高精度測(cè)試 / 大面積樣品：A 級(jí) |
| 輻照穩(wěn)定性（Irradiance Stability） | 連續(xù)工作時(shí)間內(nèi)輻照強(qiáng)度的波動(dòng)范圍（分為短期穩(wěn)定性和長(zhǎng)期穩(wěn)定性） | 保障測(cè)試過(guò)程中數(shù)據(jù)的重復(fù)性，避免因強(qiáng)度漂移導(dǎo)致實(shí)驗(yàn)失敗（如長(zhǎng)期老化測(cè)試、循環(huán)測(cè)試） | - A 級(jí)：±1%（1h 內(nèi)） | - 長(zhǎng)期老化 / 循環(huán)測(cè)試：A 級(jí)（需穩(wěn)定環(huán)境） |
| 輻照強(qiáng)度（Irradiance Level） | 測(cè)試面的太陽(yáng)輻照功率密度（標(biāo)準(zhǔn)值為 1000W/m²，可調(diào)節(jié)范圍不同） | 匹配實(shí)際應(yīng)用場(chǎng)景的光照強(qiáng)度（如高原強(qiáng)光照、室內(nèi)弱光照環(huán)境下的產(chǎn)品測(cè)試） | - 標(biāo)準(zhǔn)型：800-1200W/m² | - 常規(guī)戶外產(chǎn)品：標(biāo)準(zhǔn)型 |
| 脈沖寬度（Pulse Width） | 脈沖式太陽(yáng)模擬器的單次光照持續(xù)時(shí)間（僅針對(duì)脈沖型產(chǎn)品） | 適配測(cè)試對(duì)象的響應(yīng)速度（如快速光電器件測(cè)試、瞬態(tài)特性分析） | - 短脈沖：1-10ms | - 瞬態(tài)特性測(cè)試：短脈沖 |
| 測(cè)試面積（Test Area） | 模擬器有效輻照區(qū)域的尺寸（分為小、中、大、超大面積） | 匹配測(cè)試樣品的大?。ㄈ缧酒?jí)樣品、組件級(jí)樣品、整車級(jí)樣品） | - 小型：≤100mm×100mm | - 芯片 / 小樣品：小型 |
| 光源類型（Light Source） | 模擬器核心發(fā)光器件（常見(jiàn)氙燈、LED、汞氙燈） | 影響光譜特性、壽命、維護(hù)成本（如長(zhǎng)期使用需考慮光源更換頻率） | - 氙燈：光譜接近 AM1.5G，壽命 1000-3000h | - 高精度測(cè)試：氙燈（光譜優(yōu)） |
| 冷卻方式（Cooling Method） | 光源及系統(tǒng)的散熱方式（風(fēng)冷、水冷、混合冷卻） | 保障設(shè)備長(zhǎng)期穩(wěn)定運(yùn)行，避免因過(guò)熱導(dǎo)致故障（如長(zhǎng)時(shí)間高功率工作場(chǎng)景） | - 風(fēng)冷：適用于低 / 中功率 | - 實(shí)驗(yàn)室小功率：風(fēng)冷（維護(hù)簡(jiǎn)單） |
| 校準(zhǔn)服務(wù)（Calibration Service） | 廠商提供的定期校準(zhǔn)、溯源服務(wù)（含校準(zhǔn)證書、上門校準(zhǔn)等） | 確保設(shè)備指標(biāo)長(zhǎng)期達(dá)標(biāo)，滿足 ISO、IEC 等行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)要求（如第三方檢測(cè)機(jī)構(gòu)、合規(guī)性測(cè)試） | - 溯源級(jí)：可提供 NIST 溯源證書 | - 第三方檢測(cè) / 合規(guī)測(cè)試：溯源級(jí) |
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